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4K超清自动对焦数码显微镜返回

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产品详情

                                        GXDM423    4K超清自动对焦数码显微镜

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产品核心定位

GXDM423是东莞市广信电子科技有限公司精心打造的一款4K超清自动对焦数码显微镜。它集成了高性能HDMI相机、连续电动变倍镜头与集成照明于一体,凭借8.4倍连续光学变倍自动对焦多接口输出等核心特性,成为工业检测、教学科研与自动化系统中追求效率与精度的理想选择。

为何选择GXDM423?四大核心优势

高清成像,细节尽览

1)采用高性能Sony IMX334 1/1.8英寸Starvis CMOS传感器,有效像素达830万(3840 ×2160),确保4K超高清画质,信噪比高,成像细腻。

2)强大的图像信号处理器(ISP)提供显著的锐化与3D降噪效果,并支持精准的ROI(感兴越区域)白平衡,色彩还原更真实。

灵活变倍,操作智能

1)8.4倍连续光学变倍:通过电动控制6组16片镜片,实现1X-8.4X的无级平滑变倍,过程齐焦,观测无需反复调焦。

2)高精度自动对焦:在450-720mm(标准600mm)的工作距离范围内,可快速实现精准自动对焦,极大提升检测效率,同时也支持手动对焦以满足特殊需求。

多接口输出,部署便捷

1)支持HDMI、USB、Network(网络)三种视频输出与控制方式,可灵活连接显示器、电脑或接入网络。

2)输出帧率灵活:HDMI和USB输出支持4K@30fps,网络输出支持1080p@30fps,满足不同场景下的实时观测与传输需求。

功能集成,一步到位

1)内置智能测量:相机内已预存1-8.4倍的测量定标信息,支持角度、圆、距、曲线等十几种几何测量,并可导出参数,无需额外软件即可完成基础计量。

2)本地存储与预览:支持通过SD卡或U盘直接存储捕获的图片(JPEG/TIFF)和视频(MP4),并可在设备上本地预览回放,方便现场分析与记录。

3)集成照明与控制:配备头部吸合式LED环形灯,亮度可通过相机直接调节,照明均匀稳定。通过USB鼠标即可操控所有相机参数与功能,操作直观简洁。

详细技术规格参数

参数类别

具体规格

光学系统

光学放大倍数:1X-8.4X 连续可调

工作距离:450-720mm

标准测量工作距离:600mm

视场范围(标准距):低倍 330x190mm,高倍 40x22.5mm

对焦模式:手动 / 自动对焦


传感器:Sony IMX334 Starvis CMOS,1/1.8英寸

有效像素:830万 (3840 x 2160)

像素尺寸:2.0μm x 2.0μm

色彩类型:彩色

快门类型:卷帘快门

视频输出

输出接口:4K HDMI / NETWORK / USB

显示帧率:HDMI: 30fps@3840× 2160;NETWORK: 30fps@1920×1080;USB: 30fps@3840 ×2160

图像处理

与存储

图像捕获:8MP JPEG 或 TIFF格式,存至SD卡/U盘

视频录像:MP4 (H.264) 格式,3840x2160 @ 30fps

白平衡:经典自动、手动、ROI白平衡

曝光时间:0.04ms - 1000ms

控制与

软件

操作方式:USB鼠标

控制软件:内置XCamView(含相机控制、测量、综合工具、自动对焦面板)

电脑端软件:ToupView / ToupLite

移动端应用:支持iOS/Android APP

物理特性

主机尺寸:80 mm x 80 mm x 122 mm

立柱:高380mm,直径Φ32mm

底座:210mm x 260mm x 50mm

照明:头部吸合式LED环形灯,亮度可调

电源:DC 12V

主要应用场景

工业精密检测:PCB电路板、半导体元件、精密五金件的外观缺陷检测与尺寸测量。

学术研究与教学:生物学、材料学等学科的样本观察与教学演示。

质量保证(QA):生产线上的产品装配质量检查、来料检验(IQC)。

文档与艺术品分析:珠宝鉴定、文物修复、印章鉴别等微观特征观察。

选购指南

在选择GXDM4234K超清自动对焦数码显微镜时,您可以基于以下关键点判断其是否契合您的需求:

观测范围与精度:如果您需要在中等工作距离(约600mm)下,对从数十厘米到数厘米的物体进行从宏观定位到微观细节的连续观测,其8.4倍光学变倍和4K分辨率完全适用。

工作流程效率:如果您的检测流程需要频繁切换观察倍率,其电动连续变倍与自动对焦能显著节省时间。本地存储功能则方便现场快速存档,无需一直连接电脑。

系统集成灵活性:如果您需要将显微镜图像同时展示给多人(HDMI接大屏),或需要接入现有电脑系统(USB),甚至进行远程观测(网络),其三接口设计提供了极大便利。

基础测量需求:如果您的应用包含基础的二维尺寸测量,其内置的测量工具和预置定标可以免去额外标定的步骤,开箱即用。


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